Home

Graph: http://wumm.uni-leipzig.de:8891/sparql
tc:Field (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:SuField (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:SuFieldDiagram (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:SuFieldFormula (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:Substance (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:Component (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:InventiveStandards (EasyRdf\Resource)
rdf:type od:MatvienkoGlossaryEntry, skos:Concept, od:TOPGlossaryEntry
skos:prefLabel "Система стандартов на решение изобретательских задач и их модификация"@ru, "Система стандартов на решение изобретательских задач"@ru, "Inventive Standards"@en
od:TOPExplanation ". Система стандартов на решение изобретательских задач — это комплексный инструмент развития систем и решения изобретательских задач, состоящий из групп стандартов на решение изобретательских задач, линий развития систем и применения типовых полей и веществ. Основные группы стандартов: достройка веполей, развитие веполей, развитие измерительных веполей, стандарты на применение стандартов. Для системы стандартов на основе веполей основной является система "Стандарты-76", для которой используется АИСТ-77. Для системы стандартов на основе элеполей основной является система "Стандарты-2010", которая предназначено не только для материальных, но и для нематериальных (информационных) систем, и для которой используется АИСТ-2010."@ru
od:MatvienkoDefinition "Совокупность стандартов, систематизированных с позиции Вепольного анализа. Сегодняшняя с.с. содержит 77 стандартов, распределённых по трём классам: 1) Стандарты на изменение систем (в системах); 2) Стандарты на обнаружение и измерение систем (в системах); 3) Стандарты на применение стандартов. "@ru
od:MatvienkoLiterature " 1. Альтшуллер Г.С. «Найти идею», Новосибирск, «Наука», 1987г. 2. Альтшуллер Г.С. «Система стандартов – 77», Баку, 1986г. "@ru
od:MatvienkoNote " Объединяющим фактором, сводящим стандарты различных классов в единую систему, принято считать гипотезу о некоем закономерном развитии ТС, проявляющемся в последовательной смене «неполных» систем, полными веполями, сложными веполями и, наконец, комплексно-форсированными веполями. Гипотеза эта, сформулированная в виде самостоятельного ЗАКОНА (см. Повышения степени вепольности закон), не получила пока исчерпывающего эмпирического подтверждения и до сих пор остаётся не лишённой внутренних противоречий. Так, неясно, например, насколько корректно представлять ТС в виде «неполного веполя» (вещество без поля, без второго вещества, отсутствие поля при двух веществах или отсутствие обоих веществ), если в самом определении веполя утверждается, что именно два вещества и поле взаимодействия есть «минимально работоспособная система» (если, конечно, исключить допущение о том, что «неработоспособная» система может считаться системой; допущение, как нетрудно понять, противоречащее самому определению системы, как средства выполнения некой функции). "@ru
tc:CompleteSuField (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:CompletionofaSuField (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:ComplexSuField (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:CoupledInteraction (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:DecompositionofSuFieldSystems (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:DoubleSuField (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:EField (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:EnvironmentComponent (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:EvolutionofSuFieldSystems (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:ExcessiveInteraction (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:ExternalComplexSuField (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:FeField (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:HarmfulInteraction (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:IncompleteSuField (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:InsufficientInteraction (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:InternalComplexSuField (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:InventiveStandardsforChange (EasyRdf\Resource)
rdf:type skos:Concept, od:SouchkovGlossaryEntry
skos:prefLabel "Inventive Standards for Change"@en, "Изобретательский стандарт на изменение"@ru
od:SouchkovCategory tc:SuFieldAnalysis, tc:InventiveStandards
od:SouchkovComments "Standards for system modification"@en
od:SouchkovDefinition "A group of Inventive Standards which propose methods of solving Inventive Problems of Change that require to improve performance or quality of a technical system, to add a new feature, or to eliminate a negative effect. "@en
tc:InventiveStandardsforMeasurementandDetection (EasyRdf\Resource)
rdf:type skos:Concept, od:SouchkovGlossaryEntry
skos:prefLabel "Изобретательский стандарт на обнаружение или измерение"@ru, "Inventive Standards for Measurement and Detection"@en
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards, tc:SuFieldAnalysis
od:SouchkovDefinition "A group of Inventive Standards which propose methods of solving Inventive Problems of Measurement and Detection that require to measure value of a specific parameter or detect a change in of a specific attribute of a component at a moment given. "@en
tc:InventiveStandardsonApplication (EasyRdf\Resource)
rdf:type skos:Concept, od:SouchkovGlossaryEntry
skos:prefLabel "Inventive Standards on Application of Inventive Standards"@en, "Стандарты на применение стандартов"@ru
od:SouchkovCategory tc:SuFieldAnalysis, tc:InventiveStandards
od:SouchkovDefinition "A group of Inventive Standards which propose methods of enhancing the use of Inventive Standards of Change or Inventive Standards of Measurement and Detection, or to use these Inventive Standards when the problem constraints do not allow their use. "@en
tc:MATChEM (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:MeasurementSuField (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:ModifiedEnvironment (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:PoorlyControllableInteraction (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:PositiveInteraction (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:ProblemofChange (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:ProblemofMeasurementorDetection (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:Property (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:ProtoSuField (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:RoutineInventiveProblem (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:StandardInventiveProblem (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:StandardSolutionforSolvingInventiveProblems (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:StandardSolutions (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:SuFieldChain (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:SuFieldComponent (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:SuFieldDecomposition (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:SuFieldResource (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:SuFieldSystemsSynthesis (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:SystemofInventiveStandards (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:TField (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:TransformableSubstance (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards
tc:Vepol (EasyRdf\Resource)
od:SouchkovCategory tc:InventiveStandards